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日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計

日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計配電磁渦流雙探頭,該儀器測量準確,用途廣泛,可測量各種異形基體,如弧形、彎型、柱形、管型等。

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產品詳情

日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計配電磁渦流雙探頭,該儀器測量準確,用途廣泛,可測量各種異形基體,如弧形、彎型、柱形、管型等。


日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計產品簡介:

LZ-373型渦磁式膜厚計是采用電磁感應和渦電流雙重測試原理無損測試非磁性金屬上( 鋁、黃銅、青銅、等)或磁性基材(鐵或鋼)上的絕緣層(如:油漆、Alumite、橡膠、塑料、琺瑯、瓷漆、樹脂、其他)或非磁性涂鍍層(如:油漆、塑料、樹脂、橡膠、琺瑯、鋅、鉻、錫、銅、鋁、其他)的厚度。

LZ-373型渦磁式膜厚計為LZ-370型升級版:升級部分為數(shù)據(jù)存儲有原理的3000個加大為39000個;資料傳輸速度更快;管理軟件的升級

LZ-373是LZ-300J/330J/370系列的升級版,它具有更準確,更廣泛的用途。本機配備的測頭曲面器,可測量各種異形基體,如弧形、彎型、柱形、球狀、管型等,有手動和自動兩種開關機模式,四國語言菜單顯示等。

日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計.png



日本KETT LZ-373渦磁式膜厚計技術參數(shù):

型號:LZ-373

測量原理:磁感應+電渦流

測量范圍:電磁感應式:0~2500μm或0~99.0 mils 渦電流式:0~1200μm或0~47.0 mils

誤差范圍:<50μm±1μm ≥50μm<1000μm±2% ≥1000μm±3%

分辨率:0.1μm|1μm

探頭:帶線探頭

統(tǒng)計功能:平均值、較大值、較小值、測試次數(shù)、標準偏差

電源:1.5V

顯示屏幕:數(shù)字LCD顯示(背光燈可自行祖選擇開關)

數(shù)據(jù)接口:USB、RS-232C

整機重量:0.34kg

數(shù)據(jù)存儲:約39000個,較小值為0.1μm

數(shù)據(jù)接口:電腦(USB)輸出或打印機(RS-232C)

整機尺寸:75*145*31mm

測量面積:φ5㎜

工作溫度:0~40℃

電池壽命:100小時

消耗功率:80mW(未開背光的情況下)

儲存通道:50

測頭:點觸式(LEP-J)或(LHP-J)